HAST 加速老化試驗箱（Highly Accelerated Stress Test），又稱高壓加速老化試驗機、飽和 / 不飽和高壓蒸煮試驗箱，主要用于模擬高溫、高濕、高壓環境，快速暴露產品材料與封裝缺陷，廣泛應用于電子元器件、半導體、PCB、連接器、塑膠材料等可靠性檢測，大幅縮短傳統老化試驗周期，提升產品質量驗證效率。

一、設備用途與適用領域

核心用途

1. 快速檢測產品在高溫高濕高壓環境下的耐老化、耐腐蝕、耐濕熱性能

2. 驗證半導體芯片、IC 封裝、LED、電容電阻等器件的封裝密封性

3. 評估 PCB 板、鍍層、粘接材料在嚴苛環境下的穩定性

4. 模擬產品長期使用后的老化失效，提前發現設計與工藝缺陷

適用行業

• 半導體 / 集成電路行業

• 電子元器件、貼片元器件

• LED 照明、光伏組件

• PCB 線路板、FPC 軟板

• 連接器、線材、塑膠五金

• 汽車電子、軍工電子可靠性測試

二、設備工作原理

三、核心性能特點

1. 加速效率高

   相比傳統濕熱試驗，測試效率提升數十倍，大幅縮短研發與質檢周期。
2. 控溫控濕控壓精準穩定

   采用高精度控制系統，溫度、濕度、壓力波動小，試驗數據一致性強。
3. 安全防護齊全

   具備超壓保護、超溫保護、缺水保護、漏電保護、門蓋安全聯鎖等多重安全設計，防止誤操作風險。
4. 運行穩定耐用

   內膽采用 SUS304/316 不銹鋼，耐腐蝕、耐高溫高壓；密封結構可靠，長期使用不易泄漏。
5. 操作簡單智能

   觸摸屏控制系統，中文界面，可設定程序段、循環試驗、數據記錄、USB 導出數據。
6. 節能環保

   加熱加濕效率高，節水節電，噪音低，適合實驗室長期連續運行。

四、主要技術參數（常規標準型）

• 溫度范圍：+105℃～+143℃

• 壓力范圍：0.10～0.28MPa

• 濕度范圍：飽和濕度（100% RH）/ 不飽和可調（70%～100% RH）

• 升溫時間：常溫→143℃ 約 30～45min

• 加濕方式：內置蒸汽發生 / 噴淋加濕

• 內膽材質：SUS316 不銹鋼

• 外殼材質：冷軋鋼板噴塑

• 控制方式：觸摸屏 PLC 智能控制

• 安全裝置：壓力安全閥、超溫保護、缺水報警、漏電保護、門蓋聯鎖

• 標準配置：試樣架、電源線、說明書

五、設備結構優勢

1. 箱體結構

   圓形 / 方形加壓腔體，受力均勻，耐壓性更強，使用壽命更長。
2. 密封系統

   采用耐高溫硅膠密封圈，密封效果好，不易老化變形。
3. 加熱加濕系統

   獨立加熱與加濕模塊，升溫升壓快速均勻，避免局部過熱。
4. 控制系統

   高精度傳感器實時監測，自動調節溫度、濕度、壓力，保證試驗精度。

六、常見試驗標準

• JEDEC JESD22-A101

• IPC-TM-650

• IEC 60068

• GB/T 2423 等國內外標準

七、設備優勢總結

1. 加速老化，節省大量試驗時間

2. 精度高、重復性好，試驗數據可靠

3. 操作便捷，自動化程度高，無需專人值守

4. 結構堅固，安全可靠，適合工廠與實驗室使用

5. 支持定制：可按需求定制不同容積、特殊尺寸、非標程序